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同越光学请求进步 X 射线光源光谱纯度多层膜反射镜外表帽层结构专利进步光谱纯度

日期:2025-02-01 来源:非标设备
设备概述

  金融界 2024 年 10 月 29 日音讯,国家知识产权局信息数据显现,浙江同越光学科技有限公司请求一项名为“进步 X 射线光源光谱纯度的多层膜反射镜外表帽层结构”的专利,公开号 CN 118824594 A,请求日期为 2024 年 8 月。

  专利摘要显现,本发明公开了一种进步 X 射线光源光谱纯度的多层膜反射镜外表帽层结构,包含 X 射线周期反射多层膜和外表帽层结构,所述外表帽层结构坐落 X 射线周期多层膜的顶部。帽层结构为单层膜,资料经过特别挑选厚度经过优化本发明选用上述进步 X 射线光源光谱纯度的多层膜反射镜外表帽层结构,改动传统的多层膜结构,经过在外表添加一层特别的资料的吸收层,该资料的共振吸收边介于 Kα和 Kβ谱线波长之间,以此来完成对 X 射线光管 Kα特征谱线的吸收小,但对 Kβ谱线的吸收大,在确保多层膜作业反射率和带宽的一起,按捺 Kβ谱线的强度,进步光谱纯度。